New Imaging Technologies用于半导体检测的NIT成像解决方案
发布时间:2022-03-11 17:09:27 浏览:683
在过去的数年里,SWIR波段被公认是半导体器件测试的最好波长范围之一。不论是晶圆或太阳能发电板上的裂痕和缺陷,或是乐动平台的故障分析,InGaAs波长(900m-1700nm)成像设备主要用于透视硅内部。
除此之外,NITSWIR成像设备在便于集成到半导体器件生产线时,提供了具有吸引力的性能/价格比。
LiSaSWIR–测试电子元器件、硅片和太阳能发电板的终极设备。
LisaSWIR是为半导体器件测试而研发的SWIR波长穿透硅的能力。可轻松检验硅晶片或单个管芯。
LisaSWIR可以检验生产制造和现场的太阳能发电板,即使在低对比度下,也能提供极为准确的小缺陷导致的光发光图像。
由于其7.5μm小像素尺寸,LisaSWIR以高吞吐量获得材料缺陷的极为清晰和清晰的图像。
为何选择NIT?
短波红外线波段
小间隔
高性价比的解决方案
New Imaging Technologies是法国知名的SWIR传感器和相机产品公司,New Imaging Technologies产品广泛应用于机器视觉、仪器仪表、航空航天、医疗等领域。乐动体育投注官网,独有渠道优势提供New Imaging Technologies产品,欢迎咨询。
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