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DEI3283是一款集成了两个模拟ARINC 429接收器的器件，能够接收差分编码的ARINC电平数据并将其转换为串行TTL电平数据。具有以下主要特征：
- 包含两个独立的模拟接收器通道，无需外部元件。
- 可将ARINC 429电平转换为串行数据输出。
- ARINC 429输入可承受高达+/-200V的电压，不会损坏DEI3283。
- 支持TTL输入，用于测试完整的模拟/数字接收功能。
- 提供TTL和CMOS兼容输出。
- 低功耗设计，节省能源。
- 内部带隙基准电压源，提高稳定性。
- 符合MIL-STD-883B老化筛选标准。
- 封装选项：20 引脚陶瓷 DIP、20 引脚陶瓷 LCC 和 20 引脚 SOIC
- 直接替代 Fairchild/Raytheon RM3283 和 RM3183 以及 Holt HI-8482
产品选型：
| 型号 | 温度范围 | 封装类型 |
| DEI3283-CMB | -55°C - 125°C | 20 CERDIP |
| DEI3283-CMB-G | -55°C - 125°C | 20 CERDIP G |
| DEI3283-CMS | -55°C - 125°C | 20 CERDIP |
| DEI3283-CMS-G | -55°C - 125°C | 20 CERDIP G |
| DEI3283-EMB | -55°C - 125°C | 20 CLCC P |
| DEI3283-EMS | -55°C - 125°C | 20 CLCC P |
| DEI3283-SAB | -40°C - 125°C | 20 SOIC WB |
| DEI3283-SAB-G | -40°C - 125°C | 20 SOIC WB G |
| DEI3283-SAS | -40°C - 125°C | 20 SOIC WB |
| DEI3283-SAS-G | -40°C - 125°C | 20 SOIC WB G |
| DEI3283-SES | -55°C - 85°C | 20 SOIC WB |
| DEI3283-SES-G | -55°C - 85°C | 20 SOIC WB G |
| DEI3283-SMS | -55°C - 125°C | 20 SOIC WB |
| DEI3283-SMS-G | -55°C - 125°C | 20 SOIC WB G |
